第二章 热丝CVD金刚石膜生长的基本原理

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§2.1 实验装置

      本工作所用实验装置的核心部分如图2.1所示。 整个装置包括以下几个主
  要组成部分:
 
      (1) 化学反应室: 用于沉积金刚石,为Φ140mm, 长500mm的石英管,
      (2) 机械真空泵: 极限真空为10-3torr,
      (3) 气路: 反应气体的输入输出管道,
    (4) 电源: 用于加热灯丝, 以及电子发射等,
      (5) 测量控制部分: 包括气体质量流量控制器, 气体气压控制器( 浮子流
  量计),冷却水以控制调节衬底温度, 真空计, 光学高温计。


图2.1 HFCVD 实验装置示意图

  实验中典型参数为: ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━    参数         典型范围        典型值 ─────────────────────────────     气体源:   H2 + CH4 (+O2) 总流量(sccm): 50-300, 100 CH4 浓度(vol.%): 0.2-5.0 1.0 O2 浓度(vol.%): 0.1-1.0 0.3* 气压(torr): 1-100 30 灯丝温度(℃) 1800-2200 2000 衬底温度(℃) 500-1100 800 灯丝衬底距离(mm) 2-10 8 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ * 通常不加O2. §2.2 化学反应动力学 在自然状态, 作为碳的一种结晶形态, 金刚石是亚稳态, 石墨是稳态, 二 者的自由能差只有0.016eV/atom<1kT (0.026eV, 室温300K)。然而,二者之间 有很高的势垒,因而金刚石与石墨之间的热力学相变非常困难,如图2.2所示。 而在自然状态下,由C 原子结晶为石墨的速度却比形成金刚石的速度快得多, 所以自然界石墨比金刚石多得多。


图2.2 金刚石与石墨之间的能量势垒示意图

      对于下列相变反应[1]:
  
                 298K
            石墨 ─→ 金刚石                (1)
  
  焓变△H=1.895kJ/mol, 自由能变△G=2.900kJ/mol, 熵变△S=-3.363J/(mol.K).
  2000K时, 相平衡压力为6.4GPa [2]。可见, 常温常压下发生相变极其困难,  
  即无论是金刚石还是石墨, 一经形成, 难以通过相变的形式向另一方转变。这
  一点,对于低压合成金刚石是至关重要的。
  
    事实上,对于CVD 法低压合成金刚石来说, 人们并不是从石墨相变得到,
  而是从化学势远高于金刚石以及石墨的原子C及碳氢基团得到。 人们在适当的
  气压、适当的温度下,用大量的原子氢(H)来抑制石墨的产生, 从而得到金刚
  石。下面以本实验所用的热丝系统为例进行说明。
  
    设源气体为稀释于大量H2中的CH2。这一系统中,在适当的温度下, 不饱
  和的碳结构(C原子, sp杂化或sp2杂化的碳氢基团)最终会变成sp3杂化的饱和
  结构,即反应
      sp →← sp2 →← sp3         (2a)    
      或
      C + H2 →← CH + H →← CH2,          (2b)
      CH2 + H2 →← CH3 + H →← CH4        (2c)
  向右移动。
  
    在固、气两相混合系统中,其固相内部,无论是金刚石还是石墨,都不会
  相变到对方。所以,只要它们不露出到表面,不接触气相物质,就将维持原状
  不变,且与气相无关。但是,其表面层原子,因直接暴露于气相中,与气相发
  生化学反应,将与体内原子的情况有本质不同,不能用简单的金刚石、石墨两
  相热力学来考虑。事实上,它们更紧密地与气相物质耦和,形成一个极其复杂
  的多元化学热力学系统。固相表面的碳原子,主要有相应于石墨的不饱和sp2
  杂化, 以及相应于金刚石的饱和sp3杂化,  与前面所题到的气相中的碳氢基团
  情况类似, 在适当的条件下, 充分的反应时间里, sp2杂化将被气相中的原子
  氢饱和, 成为sp3杂化。实际上,这是一个可逆过程。如果温度过高,sp3杂化
  碳原子会脱去一个H原子变成sp2杂化。但只要条件足够好,将可以使sp2杂化
  充分地变为sp3杂化, 即
  
          +H+适当温度 
      sp2 ─────→←───── sp3              (3)
  
      当一个一个的碳氢基团接到固相表面, 且所有sp2杂化均被原子氢变为sp3
  杂化, 就得到了金刚石。(如前所述,这样的金刚石无法越过高势垒变成石墨。)
  其总体效果是:
  
          +H+适当温度
    CH4 ─────→←───── diamond + H2     (4)
  
      严格地说, 我们是建立了这样一个环境, 在这个环境中, 固相碳表面的
  sp2碳氢基团的化学势比sp3碳氢基团的化学势高, 即
  
        μ(sp2 + H) > μ(sp3 + H)             (5)
        diamond-C2H2 + H2 ─→←─ diamond-C2H4   (6)
  
                                H    H 
                                 \  /
        H-C==C-H               H-C--C-H   
      ┌─┴┴─┐           ┌─┴┴─┐
      │diamond │+ H2 ─→  │diamond │     (7) (Click here)
      └────┘           └────┘
  
      简单地说(在不严格的意义下),μ(graphite + H2) >μ(diamond + H2),
  从而系统从化学势高的状态往化学势低的状态转化,最后得到金刚石。应该注
  意到,固相和气相之间存在溶解与沉积的可逆过程,这与其相对化学势有关。
  在适当的温度下,当气相中具有反应活性的碳氢基团浓度升高时,气相化学势
  上升,发生气相中的碳氢基团向固相表面的化学吸附或沉积。相反,当气相中
  的碳氢基团浓度过低是,则发生溶解过程,反应往相反方向移动,此即原子氢
  对金刚石的刻蚀。
  
        ┌────┐       沉积 ┌────┐
        │diamond │+ CH3  ─→ │diamond ├CH3 , 等等     (8)
        └────┘       溶解 └────┘         (Click here)
  
      综上所述,可以看到低压合成金刚石要具备下列条件:
  
    (1) 创造一个富氢环境, 使得在适当的温度下固相表面sp2杂化均被饱和
  为sp3杂化;
      (2) 足够高的具有反应活性的气相碳氢基团浓度,使得沉积过程优于溶解
  过程;
    (3) 沉积得到的固相金刚石不会向石墨相变。这一点由于二者之间存在极
  高的势垒而自动得到满足;
    (4) 有稳定的气源及能量输入,以维持条件(1)和(2),使得反应得以持续
  进行。对于HFCVD, 即是热灯丝分解源气体。
  
    作者认为,只要满足这四个条件,就可以在低压下稳定地生长金刚石。
                        k1
    关于条件(1), sp2 ─→←─ sp3 是可逆过程。由于正向平衡常数理论上
                        k2
  不是∞,所以总要出现sp2、sp3的同时沉积,因而原则上不可能得到纯sp3杂
  化的金刚石。而实际上,只要条件合适,可以使得正向平衡常数k1接近∞,沉
  积速度不是过高的情况下,sp2会被充分地转化为sp3,从而得到很纯的金刚石。
  
    关于条件(2), 碳氢活性基团浓度越高, 沉积速率越大。但速率过高, 部
  分sp2来不及转为sp3就被埋入固相, 因而降低了金刚石质量。金刚石的生长速
  率主要由这一步控制,而质量则由条件(1)(2)共同控制。由条件(4)可以看出,
  金刚石的生长是一个偏离化学平衡的耗散过程。
  
      研究表明, 生成金刚石的碳氢反应基团即反应前驱物主要为CHx(x=1-3)和
   C2Hx(x=1-4). 金刚石的生成过程是一个化学反应动力学过程, 而不是由简单
  的热力学控制的。
    
  
  §2.3 基本表面及气相化学反应
  
      尽管CVD低压合成金刚石在原理上非常简单, 然而其实际过程却非常复杂。
  M.Frenklach等曾对以CH4、H2和O2为源的HFCVD 金刚石沉积过程中表面即气相
  化学反应动力学进行了非常细致的研究, 并进行了计算机模拟, 共给出了 158
  个气相反应及52种表面反应(参见ref.3)。相信这些还不是全部。 本文不打算
  对这些反应进行细致地讨论。对于CH4和H2为源的HFCVD系统, 概括地说, 大
  致可以分为以下几类过程:                         
  
      (1) 原子H的产生: 
            H2 ─→←─ 2H                             (1)
      这一过程主要 由H2经过热灯丝分解实现。 电子发射等其它过程也可导致
  正向反应的进行。逆向反应表示两H原子在扩散过程中的复合。
  
      (2) CH4为灯丝分解: 
            CH4 ─→←─ CH3 + H                       (2a)
            CH4 ─→←─ CH2 + 2H 或 CH2 + H2          (2b)
            CH4 ─→←─ CH + 3H 或 CH + H + H2        (2c)
      这些反应提供CHx的主要来源.
  
      (3) 表面空位的产生: (S代表表面surface, * 表示一个空位或悬键)
            S-H ─→←─ S-* + H                       (3)
      这一反应对生长过程尤为重要, 没有空位, 新的碳氢基团就无法接到金刚
  石表面。导致这一过程有多种原因:①因适当高温造成部分H原子脱附,  建立
  起表面空位浓度与气相H原子的平衡; ②气体分子或基团与表面H原子的碰撞 ;
  ③电子或离子对表面的轰击也可以造成空位。此外, 下面的(4) 式也是产生空
  位的一个途径。(3)式的逆反应表示H原子与空位的复合.
  
      (4) 高反应活性的H2分子与表面空位的反应: 
            S-* + H2 ─→←─ S-H + H                  (4)
      逆过程表示气相H原子对表面H原子的萃取, 产生表面空位.
  
      (5) 碳氢基团与H和H2的反应:   (R代表基团)
            R-H + H ─→←─ R-* + H2,                 (5a)
            R-* + H ─→←─ R-H                       (5b)
      考虑最主要的反应前驱物, CHx (x=1-4), C2Hx (x=1-6), 有下列反应:
            CHx + H ─→←─ CHx-1 + H2, (x=2-4)  
            CHx + H ─→←─ CHx+1, (x=1-3)  
            C2Hx + H ─→←─ C2Hx-1 + H2,  (x=2-6)  
            C2Hx + H ─→←─ C2Hx+1,       (x=1-5) 
  
      (6) 碳氢基团之间的反应:
            R1-H + R2-H ─→←─ R1-R2 + H2,           (6a)
            R1-* + R2-* ─→←─ R1-R2,                (6b)
            R1-* + R2-H ─→←─ R1-R2 + H             (6c)
      例如:
            2CH4 ─→←─ C2H6 + H2,
            2CH3 ─→←─ C2H4 + H2 ─→←─ C2H6
            CH3 + CH4 ─→←─ C2H6 ─→←─ C2H5 + H
            2CH2 ─→←─ C2H4 ─→←─ C2H2 + H2
            2CH ─→←─ C2H2
            CH + CH2 ─→←─ C2H3 ─→←─ C2H2 + H ─→←─ C2H + H2
  
      等等。这一类反应是C2Hx的主要来源.
  
      (7) 基团与表面的反应:
            S-* + R-* ─→←─ S-R,                    (7a)
            S-* + R-H ─→←─ S-R + H,                (7b)
            S-H + R-* ─→←─ S-R + H,                (7c)
            S-H + R-H ─→←─ S-R + H2                (7d)
      如:
            S-* + CH3 ─→←─ S-CH3,
            S-* + CH4 ─→←─ S-CH3 + H,
            S-H + CH3 ─→←─ S-CH3 + H,
            S-H + R-CH4 ─→←─ S-CH3 + H2,  
            S-* + CH2 ─→←─ S-CH2,
            S-* + CH ─→←─ S-CH,
            S-H + CH ─→←─ S-CH2,
            S-H + CH2 ─→←─ S-CH3,
      等等。这一类反应体现了金刚石的生长过程。逆反应则相应于金刚石的刻
  蚀.
   
      这些反应中, 最主要的是原子H的产生, CHx、C2Hx的产生, 表面空位的产
  生, 以及CHx和C2Hx往表面空位上的结合过程。Frenklach等人[3,4]为, CHx和
  C2Hx是主要生成金刚石的反应基团。孙碧武等人[5,6] 根据其高分辨电子能量
  损失谱仪(HREELS)的研究结果认为, CH4/CH3是生长金刚石(100)面的主要前驱
  物, 而CH3和C2H2是生长(111)面主要前驱物。由此看来, 在众多的气相及表面
  化学反应中, 只有涉及到CHx和C2Hx的反应才是最重要的。
  
  

  §2.4 原子氢(H)的作用
  
      原子H的作用在CVD金刚石研究早期就受到了重视[7],  并逐渐有了初步认
  识。目前,关于原子氢的作用, 在国际同行中基本上取得了一致认识。从前面
  的CVD金刚石合成基本原理以及主要的化学反应过程可以看出, 原子H对金刚石
  的合成起着关键作用。具体地说, 主要有以下几个方面:
  
      (1) 金刚石表面的稳定化。在反应温度(300-1100℃)下, 只有存在有足够
  的原子H时, 才能使表面C原子的sp2杂化变为sp3杂化。否则, 表面H 原子高温
  脱附, 出现金刚石表面的石墨化.
      图2.3为金刚石(111)面被原子H饱和后的状态, 显示了原子H对金刚石表面
  sp3杂化的稳定作用。
  
        图2.3 原子H对金刚石表面sp3杂化的稳定作用示意图。图中为被H原子
         饱和的金刚石(111)面(取自文献[9])
  

      (2) 产生表面空位。有利于CH3, C2H2等碳氢基团接入表面。 其主要过程
  为:
            S-H + H ─→←─ S-* + H2
      这一过程对金刚石的生成至关重要。有人估计, 在金刚石表面每接入一个
  C原子, 约需产生10,000个H原子[8].
  
      (3) 减小金刚石形核的临界尺寸。原子H接入表面悬键,  可大大降低金刚
  石表面能, 从而可使临界尺寸减小为几个原子.
  
      (4) 产生各种碳氢基团。原子H萃取碳氢化合物分子中的H原子, 使其成为
  带有悬键具有反应活性的基团。一般来说, 碳氢化合物的分子是难以直接用以
  生长金刚石的.
  
      (5) 刻蚀石墨及非晶碳。原子H在把sp2变成sp3的同时,  还可以把固相表
  面的C原子"溶解"到气相中去, 形成碳氢化合物。 石墨及非晶碳表面原子由于
  与体原子键合较弱, 很容易被溶解或刻蚀; 相反, 金刚石表面C 原子与体原子
  键合强,不易被刻蚀.
  
      可以说, 没有原子H, 就得不到金刚石。这也正是所有CVD沉积金刚石方法
  中都必须产生原子H的缘由.
  
      在上述富氢环境中, sp2基本上可以转化为sp3。当有碳氢基团吸附到衬底
  表面上时, 即发生形核过程。当有足够的原子氢存在从而能产生必要的空位时,
  这些空位就可以成为形核点。表面缺陷、杂质等也可成为成核点。 当衬底温
  度较低时, 吸附基团表面迁移率很低, 一个或很少几个吸附原子(或碳氢基团)
  就可以成为一个核, 不会因热扩散导致不稳定而分解。当衬底温度较高时, 则
  需要较多的吸附原子聚集在一起才能稳定下来, 形成稳定的核。一旦核已形成,
  就开始了生长过程。气相碳氢基团到达核(或金刚石)表面, 接入空位,  并沿
  晶面迁移到正常晶格位置排列, 使得晶面得以生长。如果每一个吸附原子都能
  达到正常晶格位置,则表现为二维生长; 如果温度较低( 即吸附原子表面迁移
  率低), 而基团浓度又较大, 则部分吸附原子无法到达正常晶格位置,  则表现
  为二次形核严重, 结晶度变差。随时间推移, 金刚石颗粒逐渐长大。 这就是
  CVD金刚石形核与生长的基本图象。
  

参考文献

  1. J.C.Angus, Y.Wang, and M.Sunkara, Annu. Rev. Mater. Sci. 21, 221-48(1991)
  2. R.Berman, "Thermal Properties", pp. 3-22 in The Properties of Diamond.Edited by J.E.Field, Academic Press, New York, 1979
  3. M.Frenklach, and H.wang, Phys. Rev. B43, 1520-45(1991)
  4. M.Frenklach, in Diamond and Diamond-Like Films and Coatings , Edited by R.E.Clausing, L.L.Horton, J.C.Angus, and P.Koidl, Plenum Press, New York, 1991, Page 1-16
  5. B.Sun, X.Zhang, and Z.Lin, Phys. Rev. B47, 9816-24(1993)
  6. B.Sun, X.Zhang, Q.Zhang, and Z.Lin, Appl. Phys. Lett. 62(1), 31 -3(1993)
  7. B.V.Spitsyn, L.L.Bouilov, and B.V.Deryagin, J. Cryst. Growth 52 , 219-26(1981)
  8. R. Litos, R.Haubner, and B.Lux, Proc. 12th Int. Plansee Seminar, C2, 615(1989)
  9. K.E.Spear, J. Am. Ceram. Soc. 72 [2], 171-91(1989)
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